随着极片宽度的增加，涂布机速度的提升，导致采样率大幅度降低。宽幅、高速的极限产能和对测量效率的要求提高，以及涂布边缘削薄区精确测量的极高质量要求，导致旧有的设备已不能满足需求，市场在期待一款扫描效率更快、分辨力更强的面密度测量仪。在这种背景下，大成精密Super X-Ray面密度测量仪横空出世。

Super X-Ray

面密度测量仪

可适应超过1600mm幅宽的测量，支持超高速扫描，可检测削薄区、划痕、陶瓷边等微小特征，助力解决涂布闭环实施问题。

大成精密Super X-Ray拥有以下突出优势：

核心优势

1、超宽幅涂布测量:可适应超过1600mm幅宽的测量；

2、超高速涂布扫描：扫描速度0-60米/分可调；

3、创新固态半导体探测器：大成自主研发的锂电行业创新极片测量固态半导体射线探测器，微秒级响应性，响应速度较传统方案提升10倍；

4、高速、高精度直线电机驱动: 扫描速度较传统方案提高3-4倍；

5、自研高速测量电路：采样频率可达200kHz，提升涂布闭环的效率与准确性；6、削薄容量损失计算：Super X-Ray光斑宽度最窄可达1mm，可以准确测量极片涂覆区“边缘削薄轮廓、划痕”等细节特征，削薄容量损失最大可能超过2%。

除此以外，Super X-Ray 软件功能齐全，测量系统主界面可自定义显示，可进行削薄区判定、容量判定、划痕判定等。